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8V18502AIPMREP
8V18502AIPMREP
  • 品牌:Texas Instruments
  • 描述:IC ABT SCAN TEST DEV 3.3V 64LQFP
  • 单价:0.00
  • 封装:64-LQFP
  • 系列:SCOPE??,Widebus??
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制造商:Texas Instruments
描述:IC ABT SCAN TEST DEV 3.3V 64LQFP
单价 (USD):电询
封装/外壳:64-LQFP
系列:SCOPE??,Widebus??
规格书://media.digikey.com/pdf/Data%20Sheets/Texas%20Instruments%20PDFs/SN74LVTH18(2,5)02A-EP.pdf
零件状态:过期
应用:电路板测试
接口:4 导线测试访问端口(TAP)
电压 - 电源:2.7 V ~ 3.6 V
封装/外壳:64-LQFP
供应商器件封装:64-LQFP(10x10)
安装类型:表面贴装
图像 型号 品牌 描述 单价 封装 系列 PDF下载
MAX14648EWA+T Texas Instruments IC ABT SCAN TEST DEV 3.3V 64LQFP 0.00 64-LQFP SCOPE??,Widebus?? PDF资料
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MAX14648EWA+T Texas Instruments IC ABT SCAN TEST DEV 3.3V 64LQFP 0.00 64-LQFP SCOPE??,Widebus?? PDF资料
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MAX6811SEUS+ Texas Instruments IC ABT SCAN TEST DEV 3.3V 64LQFP 0.00 64-LQFP SCOPE??,Widebus?? PDF资料
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TLE7263E Texas Instruments IC ABT SCAN TEST DEV 3.3V 64LQFP 0.00 64-LQFP SCOPE??,Widebus?? PDF资料
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